JF-4 շարքի ապակե մակերեսի լարվածության չափիչ

Կարճ նկարագրություն՝

JF-4 շարքի ապակու մակերեսային լարվածության չափիչը մշակված է քիմիապես կոփված և ջերմային կոփված ապակու մակերեսային լարվածությունը ավտոմատ կերպով չափելու համար: Այն հագեցած է համակարգչով (PC), որը նվազեցնում է յուրաքանչյուր օպերատորի կողմից չափման սխալները: Բացի այդ, կոփված ապակու մակերեսային սեղմման լարումը, շերտի խորությունը և կենտրոնական լարվածության լարումը հաշվարկելու համար անհրաժեշտ բարդ հաշվարկները արագ լուծվում են օպտիկական ալիքատարի էֆեկտի միջոցով: Համակարգչի հիշողության մեջ տվյալների պահպանումը անմիջականորեն հեշտացնում է որակի վերահսկողությունը:

Ուղարկեք մեզ էլ. նամակ

Ապրանքի մանրամասներ

Ապրանքի պիտակներ

Դիմում

Այն լայնորեն օգտագործվել է հեռախոսների ապակե վահանակների, LCD վահանակների և այլ քիմիապես կոփված ապակե վահանակների որակի վերահսկման համար: Սակայն չափիչը չի կարող կիրառվել քիմիապես կոփված (Li+ ապակու մեջ) և (Na+ աղային լոգարանում) իոնափոխանակման և քիմիապես կոփված ֆոտոքրոմային ապակու միջոցով ստացված քիմիապես կոփված ապակու վրա:

Այն կարող է հարմարեցվել պահանջներին համապատասխան: Վերջերս թողարկված ծրագիր՝ կրկնակի իոնային փոխանակման ապակու համար հարմար գործառույթներով, որը ցույց է տալիս լարվածության բաշխումը, ավտոմատ կերպով շարունակում է չափումը, ավտոմատ կերպով շարունակում է գրանցումը CSV ֆայլում և արտահանում է հաշվետվություններ:

Ծրագրային ապահովում

Ծրագիրը նախատեսված է ապակե մակերեսի լարվածության չափիչի հետ համատեղ օգտագործման համար՝ համակարգչի վրա օգտագործելու համար: Այս ծրագրի միջոցով կարելի է համակարգչում կատարել ապակե մակերեսի լարվածության միանվագ և անընդհատ չափում, լարվածության բաշխման ստուգում (միայն քիմիական կոփված ապակու համար), գրանցում, հաշվետվությունների տպագրում:

Պարամետրերը և այլ գործառույթները կարող են կարգավորվել միաժամանակ։ Համակարգչային մոնիտորների լուծաչափը պետք է լինի 1280*1024 պիքսել կամ ավելի բարձր։